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三.混合信號測試呼喚IC測試新技術(shù)
混合信號測試總線是測試數(shù)字和模擬信號的起點(diǎn)，但不是解決問題的全部方案。
集 成電路制造商希望找到一種測試方法，既能確保產(chǎn)品高質(zhì)量，又能使成本合算，換句活說，測試一種使合格產(chǎn)品產(chǎn)量最大、次品減至最低的方式。隨著越來越多的 核，無論是存儲器、邏輯電路、鎖相環(huán)即射頻IC核都集成到系統(tǒng)級芯片中。目前，制造商幾乎找不到一種滿意的自動測試設(shè)備來測試它們�，F(xiàn)有的測試沒備還不能 測試像鎖相環(huán)等模似/混全信號器件�，F(xiàn)在的一些器件是數(shù)字的，但卻有大量的模擬特性，這就對測試設(shè)備提出了新的測試需求。對此，模擬與混合佶號核目前還沒 有明確的測試方案。而數(shù)字測試系統(tǒng)能使用基于掃描的測試方法來測試其內(nèi)部特性。數(shù)字測試大部分是結(jié)構(gòu)性測試，它能檢測開路，短路和邏輯狀態(tài)。而模擬測試多 半是有關(guān)特性的功能測試，它能檢査器件的工作是否正常。一個方案就是將IC測試過 程分散到整個制造過程中，把成本分散開。確定在毎一級（晶片、芯、襯底、板、系統(tǒng)和最終產(chǎn)品）應(yīng)該監(jiān)視什么。對混合信號IC的模擬部分必須采用復(fù)雜的高精 度的功能測試。唯一明確的答案是對芯片的模擬部分的功能進(jìn)行直接測量。然而， 混合信號測試系統(tǒng)太昂貴,定價高達(dá)100—300萬美元，因 為它包括模擬與數(shù)字測試設(shè)備。
四、嵌入核IC測試標(biāo)準(zhǔn)急需系統(tǒng)推出
現(xiàn)在芯片設(shè)計的一個重點(diǎn)是系統(tǒng)級芯片。這種IC將重復(fù) 使用已設(shè)計好的功能復(fù)雜的電路模塊，即嵌入核，也稱為IP模塊或虛擬部件。對包括兩個或多個廠商提供的嵌入核的IC的可測性來說，還沒有一個標(biāo)準(zhǔn)。每一個 核提供商都在其產(chǎn)品上設(shè)計了一些可測性電路。然而，如果沒有單獨(dú)定義的、公開的可測性設(shè)計方法，核集成商不能自動檢測毎一核的可測性，也不能對它們進(jìn)行集 成。
IEEE P1500是測試嵌入核的推薦標(biāo)準(zhǔn)。它已正式稱為基于嵌入核的IC的P1500標(biāo)準(zhǔn)可測性方法。P1500工作組為重復(fù)使用IP模塊的IC制定了個標(biāo)準(zhǔn)可測性方法。該標(biāo)準(zhǔn)的概念在干具有獨(dú)立性，即嵌入核具有自測試電路, 在功能上與整個IC或其它嵌入核無關(guān)。
IEEE P1500的目的是確定檢測與診斷這類IC故障的可測性要求，同時使不同廠商提供的核易于交互�？蓽y性設(shè)計方法的結(jié)果是自動識別和配置含嵌人式核的IC的可測性特性。該方法適合各類數(shù)字嵌入式核。
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