|
隨著全球能源緊缺，石油、煤炭等傳統(tǒng)能源稀缺，同時傳統(tǒng)能源的使用對自然環(huán)境影響越來越大，社會對環(huán)境友好型以及儲量豐富的再生能源需求不斷增加。太陽能不僅是可供人類利用的儲量最為豐富的清潔能源之一，也是可自由利用型能源。通過光伏效應，將太陽能轉化為電能，能夠充分利用太陽能，減少環(huán)境污染。所以各國近幾年來大力發(fā)展光伏發(fā)電，光伏行業(yè)也成為新興產(chǎn)業(yè)之一。
太陽能是通過熱輻射，讓太陽能硅片來形成電勢差，從而產(chǎn)生電流。所以光伏行業(yè)的太陽能硅片的質量是發(fā)電轉化效率的關鍵。SICK西克為太陽能硅片的厚度以及單雙張測量提供如下解決方案。
用OD5000檢測硅晶片厚度來區(qū)分硅晶片質量。
1、雙頭測厚，通過以太網(wǎng)接口和直接集成在傳感器內部的評價單元，無需額外控制器計算。
2、高達80kHZ的測量頻率，可以準確測量微小變化。
3、創(chuàng)新型評價算法，可靠檢測邊緣變化。
4、高重復精度提升生產(chǎn)效率。
5、借助很小的光斑，微小凹陷也可精確測量。
6、通過Web網(wǎng)頁即可參數(shù)化設置和調試。
7、測量精度高達5um.
通過UD18檢測是否可能有薄晶片粘在一起，或在后續(xù)加工過程中折斷。
1、將物料分類為無層、單層或多層。
2、20 mm 至 70 mm 的可變安裝間距。
3、3 個可選靈敏度等級。
4、可示教最多 4 個 個性化靈敏度等級，用于檢測整個粘連面材料。
5、在設備運行過程中切換靈敏度等級。
更多相關資料請點擊下方圖片查看：
|
