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了解各種故障的概率，能夠理清檢修工作的先后次序，明白檢修重點，提高效率，節(jié)省工時，快速定位故障點。
經實際維修統(tǒng)計，設備電氣部分損壞的原因概率情況是：因元件損壞引起的故障占總故障的三分之一，因線路板斷線或腐蝕引起的故障占三分之一，另外因程序受損或參數調整引起的故障占三分之一。
一般來說，流過大電流的元件、加有高電壓的元件是首當其沖容易損壞的，如開關電源中的保險管、整流橋、開關管，變頻器中的IGBT、驅動光耦，PLC內的輸出晶體管，各種功率相對較大的保險電阻，限流電阻等等。這些可以使用萬用表的通斷測試、電阻測試、二極管測試檔位快速在線檢查。
和外部通過端子有連接關系的節(jié)點是容易受損壞的部位，比如PLC的輸入輸出部位電路，電流檢測電路的接口部位電路，485通訊的接口部位等，因為這些部位接有傳輸線，比較容易受到端子插拔拆卸的影響，比較容易受到外部沖擊和干擾。也可以通過測試各點對公共端電阻值來大致判斷電路有無損傷。
除去加有大電流，高電壓的元件和接口部位元件，在常見低壓直流電路系統(tǒng)中，元件損壞的概率從大到小依次是:鋁電解電容、電阻、光耦、瓷片電容、繼電器、穩(wěn)壓管、三極管、鉭電容、運算放大器、邏輯芯片和處理器芯片。
鋁質電解電容是一定會老化損壞的元件，它的損壞只是時間問題，而且故障電容以1uF~330uF為常見，所以檢查時要對上了一定年份的此類電解電容重點檢查。
普通的帶電容測試檔的萬用表、電容表雖然可以測試電容量，但是電容容量沒有下降并不能說明電容沒有損壞，電容的好壞還須其它參數的正常來證明。除了電容的容量，我們還可以使用數字電橋測試電容的損耗即D值，比照正常電容的D 值范圍，D值偏差過大，說明電容老化需要更換。
VI曲線測試儀也是判斷電容好壞的好工具。電容的標準VI曲線應該是以原點為中心的且橫縱坐標軸都對稱的標準橢圓，如果曲線歪斜，則說明電容ESR過大，已經老化。
電阻以開路或阻值變大最為常見，可以通過在線測試比較阻值有否超出標稱阻值來判斷電阻好壞。
光耦的損壞以驅動類光耦損壞最為常見，也可以通過在線模擬的形式來判斷好壞。
瓷片電容的損壞表現為短路或輕微漏電，開路的情況見于貼片封裝的瓷片電容，因為引腳受腐蝕而開路。輕微漏電大多數情況下無法測出，可將懷疑電容拆下，用電容表測其電容量，然后取相同容量電容代替，讓電路板實際工作起來，觀察故障是否消失。模擬電路中往往包括些許小瓷片電容，做反饋濾波之用，這些電容如果輕微漏電，可能使電路參數改變，造成電路工作異常，在檢查各個元件后沒有發(fā)現明顯異常的情況下，可將那些小瓷片電容更換試試。
繼電器的損壞表現為觸點受火花影響氧化造成接觸不良或完全不能接觸，觸點被大電流的焊接效應燒死不能釋放�？梢酝ㄟ^給繼電器線圈加電，測觸點的接觸電阻來判斷觸點好壞。
穩(wěn)壓二極管因為要通過調節(jié)自身消耗的電流來穩(wěn)定電壓，當有機會通過較大電流時，也就可能造成損壞。另外，電路中的TVS(瞬態(tài)電壓抑制器)的損壞也是這個情形。
鉭電容是很難出現故障的元件，但也偶爾有出現短路的情形，因為鉭電容的ESR是很小的，給其突然加上電壓，瞬間沖擊電流非常大，如果電路設計者不考慮在其前級加上緩沖元件如串聯電感元件等措施，鉭電容也是容易受損的。
運算放大器、邏輯電路(TTL和CMOS)、處理器芯片、存儲器芯片等，一般情況下是很難損壞的芯片，除非受到外部沖擊。所以在檢查時不能過分糾結此類元件，只要檢查元件各腳位有否對地短路即可。
電路板的腐蝕斷線是比較常見的故障�？梢杂^察電路板上比較明顯的臟污部分和銹蝕部分，看一看電解電容或電池周圍有沒有漏液痕跡，觀察PCB走線的綠油保護層是否被破壞。板上有油污和積塵的，先行清理，重點觀察油污和積塵下電路板部分有否異樣。可用萬用表通斷測試檔對懷疑斷線的PCB網絡進行檢查。
有些故障并非電路板上的實質故障，而是機器的參數設置或軟件有問題。這要在用戶反映故障時就要詳細了解清楚，有條件的最好現場觀察故障現象，不可盲目動手拆修。比如變頻器過流報警，應了解報警號是什么，是在哪個階段報警，用戶有否動過參數等等。
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