瑕疵檢測(cè)、污垢檢測(cè)或芯片檢測(cè)都是非常典型的機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)檢測(cè)的應(yīng)用方式。根據(jù)工件和生產(chǎn)線的狀況不同，每種檢測(cè)都需要不同的功能。本文對(duì)機(jī)器視覺(jué)污點(diǎn)檢測(cè)工具的原理及使用方法做以簡(jiǎn)介。
1、污點(diǎn)檢測(cè)工具的算法(區(qū)段的比較和計(jì)算方式)
檢測(cè)原理：
(1)將 X 方向指定為檢測(cè)方向時(shí)：
污點(diǎn)檢測(cè)工具測(cè)量指定區(qū)域(區(qū)段)的平均強(qiáng)度，并以四分之一個(gè)區(qū)段為間距改變區(qū)段位置。
它可確定四個(gè)區(qū)段中的最大和最小強(qiáng)度之間的差值，其中包括標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段(下圖中的①95)。該差值被視為標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段的污點(diǎn)等級(jí)。
當(dāng)污點(diǎn)等級(jí)超過(guò)當(dāng)前閾值時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段被視為污點(diǎn)。被測(cè)區(qū)域中超過(guò)預(yù)設(shè)閾值的次數(shù)被稱為“污點(diǎn)范圍”。該過(guò)程反復(fù)進(jìn)行，從而不斷改變標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段在被測(cè)區(qū)域中的位置。
(2)將 X 和 Y 方向指定為檢測(cè)方向時(shí)
以標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段為參照物，計(jì)算 X 和 Y 方向上的16個(gè)區(qū)段的最大強(qiáng)度和最小強(qiáng)度的差值。通過(guò)比較全部 16 個(gè)區(qū)段，而不僅僅只是 X 方向上的 4 個(gè)區(qū)段，可檢測(cè)更細(xì)微的強(qiáng)度變化(污點(diǎn))。
在圓形工件上檢測(cè)污點(diǎn)的原理
PET 瓶、軸承或O型圈等多種圓形工件需要對(duì)圓形區(qū)域進(jìn)行視覺(jué)檢測(cè)。當(dāng)搜索圓形區(qū)域時(shí)，程序同時(shí)執(zhí)行極坐標(biāo)轉(zhuǎn)換。為了檢測(cè)污點(diǎn)，它將圓形窗口(檢測(cè)區(qū)段)轉(zhuǎn)換為長(zhǎng)方形，并在圓形方向和半徑方向上比較區(qū)段的強(qiáng)度。
2、區(qū)段
視覺(jué)系統(tǒng)透過(guò)CCD圖像傳感器將強(qiáng)度資料的變化檢測(cè)為污點(diǎn)或邊緣。但是，逐個(gè)處理像素需要花費(fèi)大量的時(shí)間，并且噪聲會(huì)對(duì)檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生影響。因此，視覺(jué)系統(tǒng)使用由數(shù)個(gè)像素組成的小區(qū)域的平均強(qiáng)度，該小區(qū)域被稱為“區(qū)段”，并透過(guò)比較這些區(qū)段的平均強(qiáng)度來(lái)檢測(cè)污點(diǎn)。
如上圖中所示將區(qū)段(4 x 4 像素)的平均強(qiáng)度與周邊地區(qū)的平均強(qiáng)度作比較，圖中的紅色區(qū)段被檢測(cè)出污點(diǎn)。
