STO1400光耦測(cè)試儀
陜西天士立科技生產(chǎn)的STO1400光耦測(cè)試儀，可測(cè)試各類光耦參數(shù)，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，線性光耦、高速光耦，等。測(cè)試參數(shù)包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat)”“開(kāi)關(guān)時(shí)間toff/ton”等。陜西天士立科技。
一、光耦測(cè)試儀·產(chǎn)品信息
產(chǎn)品型號(hào)：STO1400
產(chǎn)品名稱：光耦測(cè)試儀；
制造廠家：陜西天士立科技有限公司
通聯(lián)編號(hào)：Phone-029-8822-5591-Mr.Wang
主機(jī)尺寸：深305*寬280*高120(mm)
主機(jī)重量：＜5Kg
主機(jī)功耗：＜75W
環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲(chǔ)存）、5℃～50℃（工作）；
相對(duì)濕度：≯85%；
防護(hù)條件：無(wú)較大灰塵，腐蝕性氣體，導(dǎo)電粉塵等；
電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作時(shí)間：連續(xù)。
二、光耦測(cè)試儀·產(chǎn)品介紹
STO1400光耦測(cè)試儀是一款布局緊湊、功能全面、界面友好、操作簡(jiǎn)潔的單機(jī)測(cè)試儀器。專為各類光耦參數(shù)測(cè)試而設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，可測(cè)試各類單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，高速光耦，線性光耦等。測(cè)試參數(shù)包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降 VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat)”“開(kāi)關(guān)時(shí)間”......可測(cè)具體參數(shù)數(shù)值也可以進(jìn)行篩選性測(cè)試，既合格/不合格(OK/NO)。
STO1400光耦測(cè)試儀產(chǎn)品前面板設(shè)有“顯示屏區(qū)域”“操作按鍵區(qū)域”“接口區(qū)域”�；陲w思卡爾 16 位單片機(jī)編程的操作程序包含測(cè)試程序編輯、程序調(diào)用、數(shù)據(jù)保存、功能類型等常規(guī)設(shè)置。10 檔位分檔設(shè)計(jì)，耐壓測(cè)試電壓 1400V/可擴(kuò)展，測(cè)試正向壓降和輸出電流可達(dá) 1A/可擴(kuò)展
三、光耦測(cè)試儀·應(yīng)用場(chǎng)景
1、測(cè)試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試，主要功能為曲線追蹤儀）
2、失效分析（對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試分析，查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案）
3、選型配對(duì)（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試，將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì)）
4、來(lái)料檢驗(yàn)（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
5、量產(chǎn)測(cè)試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實(shí)現(xiàn)規(guī)�；⒆詣�(dòng)化測(cè)試）
6、替代進(jìn)口（STO1400光耦測(cè)試儀可替代同級(jí)別進(jìn)口產(chǎn)品）
四、光耦測(cè)試儀·產(chǎn)品特點(diǎn)
※ 大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡(jiǎn)潔,操作方便簡(jiǎn)單.
※ 大容量EEPROM存儲(chǔ)器,儲(chǔ)存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號(hào)數(shù).
※ 全部可編程的DUT恒流源和電壓源.
※ 內(nèi)置繼電器矩陣自動(dòng)連接所需的測(cè)試電路,電壓/電流源和測(cè)試回路.
※ 高壓測(cè)試電流分辨率1uA,測(cè)試電壓可達(dá)1400V.
※ 重復(fù)”回路”式測(cè)試解決了元件發(fā)熱和間歇的問(wèn)題.
※ 軟件自校準(zhǔn)功能
※ 自動(dòng)模式:自動(dòng)檢測(cè)有無(wú)DUT放于測(cè)試座中,有則自動(dòng)處于重復(fù)測(cè)試狀態(tài),無(wú)則處于重復(fù)檢測(cè)狀態(tài).
※ 手動(dòng)模式：剛開(kāi)始未測(cè)試時(shí)屏幕白屏屬正�，F(xiàn)象，當(dāng)測(cè)試開(kāi)關(guān)按下后才自動(dòng)對(duì)測(cè)試座中的DUT進(jìn)行檢測(cè)測(cè)試，長(zhǎng)按開(kāi)關(guān)不松開(kāi)則處于重復(fù)測(cè)試狀態(tài),松開(kāi)開(kāi)關(guān)則自動(dòng)停止測(cè)試。
※ 基于大規(guī)模微處理器設(shè)備,當(dāng)用戶選定了設(shè)置好的型號(hào)時(shí),在手動(dòng)測(cè)試時(shí),按下測(cè)試開(kāi)關(guān),使測(cè)試機(jī)開(kāi)始執(zhí)行功能檢測(cè),自動(dòng)測(cè)試過(guò)程將在STO1400的測(cè)試座上檢測(cè)DUT短路,開(kāi)路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測(cè)試.功能測(cè)試主要保護(hù)DUT不被因型號(hào)選錯(cuò)而測(cè)壞元件，
※ DUT的功能測(cè)試通過(guò)過(guò),LCD顯示出DUT的引腳排列(P_XXX),
※ 測(cè)試方式(手動(dòng)/自動(dòng))并繼續(xù)進(jìn)行循環(huán)測(cè)試,顯示測(cè)試結(jié)果是否合格,并有聲光提示.
※ 在測(cè)試時(shí),能自動(dòng)識(shí)別引腳功能,并自動(dòng)轉(zhuǎn)換矩陣開(kāi)關(guān)進(jìn)行參數(shù)測(cè)試.測(cè)試后顯示對(duì)應(yīng)引腳功能號(hào)
五、光耦測(cè)試儀·測(cè)試種類及參數(shù)
5.1、可測(cè)試的光耦類型
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分類方式
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具體分類
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光路徑
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外光路光耦（透過(guò)型和反射型）
內(nèi)光路光耦
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輸出形式
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光敏器件輸出型光耦
NPN三極管輸出型光耦
達(dá)林頓三極管輸出型光耦
邏輯門電路輸出型光耦（門電路輸出型，施密特觸發(fā)輸出型，三態(tài)門電路輸出型等）
低導(dǎo)通輸出型光耦
光開(kāi)關(guān)輸出型光耦
功率輸出型光耦（IGBT/MOSFET等輸出）。
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傳輸信號(hào)
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數(shù)字光耦（OC門輸出型，圖騰柱輸出型及三態(tài)門電路輸出型等）
線性光耦（可分為低漂移型，高線性型，寬帶型，單電源型，雙電源型等）。
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開(kāi)關(guān)速度
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低速光耦（光敏三極管、光電池等輸出型）
高速光耦（光敏二極管帶信號(hào)處理電路或者光敏集成電路輸出型）
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不同通道
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單通道光耦
雙通道光耦
多通道光耦
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隔離特性
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普通隔離光耦
高壓隔離光耦
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工作電壓
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低電源電壓型光耦
高電源電壓型光耦
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封裝形式
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同軸型
雙列直插型
TO封裝型
扁平封裝型
貼片封裝型
光纖傳輸型
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5.2、引腳定義
AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極
5.3、測(cè)試參數(shù)
- 正向電壓 VF
- 正向電流 IF
- 擊穿電壓 VR
- 反向電流 IR
- 輸出低電平電源電流 ICCL
- 輸出高電平電源電流 ICCH
- 使能端高電平電壓 VEH
- 使能端低電平電壓 VEL
- 使能端高電平流 IEH
- 使能端低電平流 IEL
- 輸出端高電平電壓 VOH
- 輸出端低電平電壓 VOL
- 輸出端高電平電流 IOH
- 輸出端低電平電流流 IOL
- 電流傳輸比 CTR
- 輸出上升時(shí)間 Tr
- 輸出下降時(shí)間 Tf
- 上升傳輸延遲時(shí)間 tpLH
- 下降傳輸延遲時(shí)間 tpHL
5.4、參數(shù)定義
- VF：IF: 光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測(cè)試電流.
- Vce:Bv:光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電壓.
- Vce:Ir: 光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電流.
- CTR:IF:光耦傳輸比時(shí)輸入端的測(cè)試電流。
- CTR:Vce:光耦傳輸比時(shí)輸出端的測(cè)試電壓。
- Vsat:IF:光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測(cè)試電流。
- Vsat:Ic:光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測(cè)試電流。
低配版·STO1400光耦測(cè)試儀
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耐壓
BVCEO/BVECO
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測(cè)試范圍0-1400V
分辨率1V
精度<2%+2RD
測(cè)試條件0-2mA
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輸入正向壓降
VF
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測(cè)試范圍0-2V
分辨率2mV
精度<1%+2RD
測(cè)試條件0-1000mA
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輸出端反向漏電流
ICEO
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測(cè)試范圍0-2000uA
分辨率1UA
精度<5% +5RD
測(cè)試條件BVCE=25V
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反向漏電流
IR
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測(cè)試范圍0-2000uA
分辨率1UA
精度<5% +5RD
測(cè)試條件VR=0-20V
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電流傳輸比
CTR
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測(cè)試范圍0-9999
分辨率1%
精度1% +5RD
測(cè)試條件BVCE：0-20V
測(cè)試條件IF：0-100mA
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輸出導(dǎo)通壓降
VCE(sat)
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測(cè)試范圍0-2.000V
分辨率2mV
精度1% +5RD
測(cè)試條件IC：0-1.000A
測(cè)試條件IF：0-1.000A
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高配版·STO1400光耦測(cè)試儀
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序號(hào)
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參數(shù)名稱
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符號(hào)
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測(cè)試范圍
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分辨率和精度要求
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1
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正向電壓
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VF
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0～20V
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量程±100V、±1000V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度
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2
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正向電流
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IF
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0～60mA
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量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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3
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擊穿電壓
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VR
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-20V～0
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量程±1000V的分辨率和精度
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4
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反向電流
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IR
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-10mA～0
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量程±40mA ±4mA、±400μA、±40μA 、±4μA的分辨率和精度
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5
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輸出低電平電源電流
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ICCL
|
0～5A
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量程 ±4，±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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6
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輸出高電平電源電流
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ICCH
|
0～5A
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量程±4A,±40A,±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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7
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使能端高電平電壓
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VEH
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0～20V
|
量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度
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8
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使能端低電平電壓
|
VEL
|
0～20V
|
量程±1000V、±100V、±10V、±1V、±100mV的分辨率和精度
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9
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使能端高電平流
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IEH
|
0～10mA
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量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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10
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使能端低電平流
|
IEL
|
0～10mA
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量程±400mA、±40mA 、±4mA、±400μA、±40μA、 ±4μA的分辨率和精度
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陜西天士立科技有限公司研發(fā)生產(chǎn)的STO1400光耦測(cè)試儀，可測(cè)試各類光耦，如單通道、雙通道、多通道的模擬光耦，數(shù)字光耦，高速光耦，線性光耦等。測(cè)試參數(shù)包括“耐壓BVCEO/BVECO”、“輸入正向壓降VF”、“輸出端反向漏電流 ICEO”、“反向漏電流 IR”、“電流傳輸比 CTR”、“輸出導(dǎo)通壓降 VCE(sat)”“開(kāi)關(guān)時(shí)間toff/ton”等陜西天士立科技有限公司。
