W1光學(xué)3d輪廓檢測(cè)儀直觀的操作界面，讓您對(duì)操作流程一目了然，自動(dòng)聚焦，助您一鍵實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程；可視化的工作流程樹(shù)，一鍵激活的圖庫(kù)管理功能，所見(jiàn)即所得的分析功能，有一鍵分析功能，批量測(cè)量不用愁。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：SuperView W1系列
產(chǎn)品名稱：光學(xué)3D表面輪廓儀
影像系統(tǒng)：1024×1024
光學(xué)ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可選）
干涉物鏡：10×，（2.5×，5×，20×，50×，100×可選）
XY平臺(tái)：尺寸320×200mm，行程140×110mm，電動(dòng)、手動(dòng)同時(shí)具備，均為光柵閉環(huán)反饋
Z軸行程：100mm，電動(dòng)
Z向掃描范圍：10mm
Z向分辨率：0.1nm
可測(cè)樣品反射率：0.05%-100%
水平調(diào)整：±5°手動(dòng)
粗糙度RMS重復(fù)性：0.005nm
臺(tái)階高測(cè)量：準(zhǔn)確度0.3%，重復(fù)性0.08% 1σ
主要特點(diǎn)：非接觸式無(wú)損檢測(cè)，一鍵分析、測(cè)量速度快、效率高
生產(chǎn)企業(yè)：深圳市中圖儀器股份有限公司
注釋：更多詳細(xì)產(chǎn)品信息，請(qǐng)聯(lián)系我們獲取
W1光學(xué)3d輪廓檢測(cè)儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性，可測(cè)2D/3D輪廓、粗糙度，300余種特征參數(shù)……在半導(dǎo)體、精密加工及微納材料等領(lǐng)域可得到廣泛應(yīng)用，光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面線粗糙度、金字塔型磁頭夾角、微透鏡陣列曲率半徑等。
