作用:精確地將錫膏印刷到高密度、細(xì)間距的焊盤上。
主控板特點(diǎn):
超薄鋼網(wǎng):主控板上的元器件如BGA、CSP、0201/01005阻容元件,引腳間距非常。‵ine Pitch),通常使用0.1mm或0.08mm厚度的鋼網(wǎng),以確保錫膏量的精確控制,防止橋連和錫珠。
激光切割 + 電拋光:開口幾乎全部采用激光切割,并進(jìn)行電拋光處理,使內(nèi)壁光滑,利于錫膏釋放。
納米涂層:為提高脫模效果,防止錫膏堵塞微小的開口,高端主控板鋼網(wǎng)通常會做納米涂層(如納米鋼網(wǎng))。
微孔設(shè)計(jì):對于0.4mm pitch以下的BGA或CSP,開口直徑和形狀需要精密計(jì)算,常采用方形或圓形內(nèi)切孔,以優(yōu)化錫膏體積。
作用:防止PCB彎曲變形,并支撐板子平穩(wěn)通過回流焊爐。
防止BGA/CPU虛焊:主控板的核心是大型BGA封裝(如CPU、GPU)。PCB在回流焊過程中任何微小的彎曲都可能導(dǎo)致BGA球與焊盤接觸不良,形成“枕頭效應(yīng)”等缺陷。過爐托盤的核心作用就是保持PCB絕對平整。
輕薄板必備:主控板多為多層板,且趨向輕薄化,更容易受熱變形,因此對過爐托盤的依賴性非常高。
材料與設(shè)計(jì):廣泛使用合成石,因其隔熱性、穩(wěn)定性和防靜電性能極佳。治具與PCB的支撐點(diǎn)需要精心設(shè)計(jì),確保支撐均勻,且不能頂?shù)桨灞趁娴男⌒驮?/p>
作用:快速檢測焊接后的短路、開路、元器件漏貼、錯(cuò)貼、值偏差等。
高密度探針:主控板上的測試點(diǎn)非常密集且小,需要使用更細(xì)、間距更小的探針(Pogo Pin)。
百萬點(diǎn)測試:電路復(fù)雜,測試節(jié)點(diǎn)極多,ICT程序龐大,對測試機(jī)的通道數(shù)要求高。
屏蔽與隔離:由于主控板信號頻率高,治具設(shè)計(jì)需考慮信號完整性和抗干擾。有時(shí)需要為高頻區(qū)域設(shè)計(jì)屏蔽蓋或使用特殊材料減少干擾。
有限訪問:隨著芯片集成度提高和板子小型化,很多信號點(diǎn)無法引出測試點(diǎn),導(dǎo)致ICT測試覆蓋率下降。治具設(shè)計(jì)需與PCB設(shè)計(jì)協(xié)同,盡可能預(yù)留關(guān)鍵測試點(diǎn)。
作用:模擬整機(jī)環(huán)境,讓主控板“跑起來”,測試其硬件功能和軟件邏輯。
復(fù)雜接口:治具需要集成或模擬各種外圍接口,如:
內(nèi)存插槽:安裝已知良好的內(nèi)存條。
PCIe插槽:連接測試卡。
SATA/USB/Ethernet接口:連接硬盤、U盤、網(wǎng)線。
顯示接口:通過圖像采集卡檢查輸出信號。
燒錄程序:治具通常集成編程器,用于給主控板上的BIOS/Flash芯片燒錄固件和軟件。
散熱模擬:可能需要安裝散熱器或模擬散熱條件,測試主控芯片在正常溫度下的穩(wěn)定性。
自動化與軟件:FCT治具的軟件非常復(fù)雜,需要編寫測試腳本,自動化的執(zhí)行上電、序列號燒錄、功能測試、性能測試、結(jié)果判定和日志記錄。
這是主控板特有且非常重要的治具。
作用:對焊接不良的BGA芯片(如CPU、橋片)進(jìn)行定位、拆焊、植球和重新焊接。
特點(diǎn):
精準(zhǔn)定位:通過精密的光學(xué)定位或機(jī)械定位銷,確保BGA芯片在返修時(shí)與焊盤100%對準(zhǔn)。
局部加熱:與底部預(yù)熱臺配合,對單個(gè)BGA進(jìn)行可控的加熱曲線,避免損壞周邊元器件和PCB。
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