應(yīng)用描述
檢測(cè)手機(jī)芯片表面臟污、劃傷等缺陷。通過(guò)選用球積分光源,降低光源工作距離,將臟污、劃傷明顯區(qū)別出來(lái)。
實(shí)物圖
效果圖
手機(jī)芯片缺陷檢測(cè)案例說(shuō)明下載
手機(jī)芯片缺陷檢測(cè)例程下載
相關(guān)產(chǎn)品
OPT-RID52-W
采用特制漫射板,使光源發(fā)出的光線均勻分布在整個(gè)圖像上; 有效消除表面不平整形成的干擾。
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