圖示為實(shí)驗室模擬過電壓測試環(huán)境。采集卡(250MS/s 1ch 12bit)放置在等電位箱體內(nèi),敞開放置。高壓放電經(jīng)高壓衰減器接入,采集卡設(shè)置為高阻輸入,采用電池供電。量化后的數(shù)據(jù)由光纖經(jīng)光交換機(jī)傳至上位機(jī)。
設(shè)置采樣率250MSps,觸發(fā)采集長度500ms,預(yù)觸發(fā)長度50ms,得到波形:
第一次放電脈沖局部放大圖:
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