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奧林巴斯IXplore SpinSR是一款專為快速三維超分辨成像和動(dòng)態(tài)樣品長(zhǎng)時(shí)間觀察設(shè)計(jì)的共聚焦超分辨系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅具備出色的成像速度，還能在復(fù)雜結(jié)構(gòu)和動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)中快速揭示高分辨率細(xì)節(jié)。無(wú)需特殊標(biāo)記即可實(shí)現(xiàn)低至120nm的XY分辨率，適用于多種類型的動(dòng)態(tài)樣品研究。
超高分辨成像能力
IXplore SpinSR結(jié)合了轉(zhuǎn)盤共聚焦技術(shù)和奧林巴斯獨(dú)有的超高分辨率技術(shù)（OSR），能夠捕捉以往難以達(dá)到的精細(xì)結(jié)構(gòu)。例如，通過(guò)OSR技術(shù)可以清晰地觀察到材料表面的微細(xì)紋理、復(fù)合結(jié)構(gòu)中的微觀分布等。這種技術(shù)的應(yīng)用極大拓展了對(duì)精密結(jié)構(gòu)的理解，如納米級(jí)孔隙、晶體排列以及微觀機(jī)械部件的內(nèi)部構(gòu)造等。
動(dòng)態(tài)樣品成像的新紀(jì)元
利用IXplore SpinSR進(jìn)行動(dòng)態(tài)觀察時(shí)，其快速且低干擾的成像特性使得長(zhǎng)時(shí)間監(jiān)測(cè)成為可能。通過(guò)轉(zhuǎn)盤共聚焦高速采集與快速超高分辨率處理相結(jié)合，用戶可在短時(shí)間內(nèi)獲取樣品的高清圖像，特別適合用于需要連續(xù)追蹤的動(dòng)態(tài)過(guò)程，如材料形變、粒子運(yùn)動(dòng)或微流控系統(tǒng)中的流動(dòng)行為等。實(shí)時(shí)監(jiān)控有助于更深入理解復(fù)雜系統(tǒng)的運(yùn)行機(jī)制。
多種成像模式
IXplore SpinSR支持寬場(chǎng)、共聚焦和超高分辨三種成像模式，可根據(jù)不同需求自由切換。無(wú)論是觀察淺層結(jié)構(gòu)還是深層細(xì)節(jié)，該系統(tǒng)都能提供高質(zhì)量圖像。此外，配合高性能物鏡使用，可實(shí)現(xiàn)更深層次、更高對(duì)比度的三維成像，讓用戶從整體到局部全面掌握樣品的微觀信息。
更清晰的圖像質(zhì)量
為了進(jìn)一步提升圖像質(zhì)量，IXplore SpinSR集成了奧林巴斯TruSight反卷積算法，有效消除圖像模糊，增強(qiáng)清晰度和銳利度。同時(shí)，系統(tǒng)支持多色成像而無(wú)需特殊染料或標(biāo)記，簡(jiǎn)化了操作流程，提高了成像效率。
用戶友好的設(shè)計(jì)
IXplore SpinSR在設(shè)計(jì)上充分考慮用戶體驗(yàn)，界面直觀、操作簡(jiǎn)便，即使是首次使用者也能快速上手。其靈活性與強(qiáng)大功能使其成為現(xiàn)代科研和工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域的重要工具，廣泛適用于材料科學(xué)、電子器件分析、半導(dǎo)體檢測(cè)等多個(gè)方向。
奧林巴斯IXplore SpinSR超分辨率顯微鏡憑借技術(shù)性能、多樣化的成像模式以及人性化的操作體驗(yàn)，開(kāi)啟了高精度成像的新階段，助力全球研究人員在多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域取得更多突破性成果。
奧林巴斯光學(xué)顯微鏡：https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/products/
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