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晶振是電子設(shè)備中的關(guān)鍵元件，為各類(lèi)電子產(chǎn)品提供穩(wěn)定的時(shí)鐘信號(hào)。了解晶振的主要參數(shù)能夠更好地了解晶振性能以及如何根據(jù)參數(shù)選擇合適的晶振。
晶振分為：
1、無(wú)源晶振：晶體諧振器Crystal Resonator需要匹配外部諧振電路才可以輸出信號(hào)，自身無(wú)法振蕩。
2、有源晶振：時(shí)鐘振蕩器Clock Oscillator比無(wú)源晶振輸出信號(hào)好，穩(wěn)定度高，不受外部電路影響，內(nèi)部有獨(dú)立起振芯片。
一、無(wú)源晶振（Crystal）主要參數(shù)
| 無(wú)源晶振主要參數(shù) |
定義 |
| 標(biāo)稱(chēng)頻率（Nominal Frequency） |
晶體在特定負(fù)載電容和溫度條件下（通常25℃）的基準(zhǔn)諧振頻率。 |
| 負(fù)載電容（Load Capacitance, CL） |
晶振工作時(shí)，其兩端所連接的總等效電容 |
| 諧振電阻（Equivalent Series Resistance） |
晶體在串聯(lián)諧振時(shí)的等效阻抗 |
| 頻差（Frequency to tolerance at 25℃） |
出廠時(shí)在標(biāo)稱(chēng)負(fù)載電容和常溫（25℃）下的初始頻率誤差。 |
| 老化率（Aging） |
晶體長(zhǎng)期使用后因材料應(yīng)力釋放、污染物吸附等引起的累積頻率偏移 |
| 溫度穩(wěn)定性（Stability over temperature） |
晶體頻率隨溫度變化的敏感度 |
| 儲(chǔ)存溫度（Storage Temperature Range ） |
無(wú)源晶振的儲(chǔ)存溫度 |
| 激勵(lì)功率（Level of Drive ） |
對(duì)施加在石英晶片上的電流的規(guī)定參數(shù)指標(biāo)，代表驅(qū)動(dòng)晶振（振蕩電路）所需的功率 |
| 振蕩模式（Mode of vibration） |
基頻/泛音 |
| 工作溫度 （Operating Temperature Range） |
無(wú)源晶振的工作溫度 |
二、有源晶振（Oscillator）主要參數(shù)
| 有源晶振主要參數(shù) |
定義 |
| 標(biāo)稱(chēng)頻率 （Nominal Frequency） |
晶振實(shí)際輸出的時(shí)鐘頻率，可能包含分頻/倍頻后的值 |
| 頻率穩(wěn)定度（Frequency Stability） |
全溫度范圍內(nèi)頻率最大偏移，包含初始誤差、溫度漂移、電壓波動(dòng)等綜合影響 |
| 電源電壓 （Supply Voltage） |
晶振正常工作所需的供電電壓范圍 |
| 工作電流 （Current Consumption） |
振蕩器所消耗的電流總量 |
| 相位噪聲（Phase Noise） |
信號(hào)在頻域上的短期穩(wěn)定性，反映時(shí)鐘抖動(dòng)（Jitter）特性 |
| 起振時(shí)間（Start up time） |
當(dāng)電壓開(kāi)始供電的那一段起振，振蕩器輸出達(dá)到穩(wěn)定時(shí)的時(shí)間 |
| 輸出波形（Output Type） |
CMOS、削峰正弦波、LVDS、LVPECL、CML、HCSL |
| 上升時(shí)間（Rise Time） |
輸出電壓從Logic “0”到Logic “1”所花費(fèi)的時(shí)間（10%->90%） |
| 下降時(shí)間（Fall Time） |
輸出電壓從Logic “1”到Logic “0”所花費(fèi)的時(shí)間（90%->10%） |
（有源晶振輸出波形）
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