隨著科學(xué)技術(shù)水平的提高,科學(xué)技術(shù)在軍事、航空、工業(yè)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。科學(xué)級CCD一直是科學(xué)領(lǐng)域中應(yīng)用最為廣泛的圖像傳感器,它集轉(zhuǎn)換、電荷轉(zhuǎn)移與存儲等功能于一身。一直以來科學(xué)級圖像傳感器都在不斷的優(yōu)化和升級,以求能夠為各項提供更高性能的成像設(shè)備。但是在研發(fā)的過程中還要克服很多問題,噪聲就是其中之一。
(1)暗電流噪聲
光電二極管的暗電流是導(dǎo)致科學(xué)級CCD圖像傳感器中暗白點、白色損傷或顆粒等問題的主要原因。由于各像素中暗電流的不均勻而出現(xiàn)的固定圖像噪聲,即使在沒有入射光的情況下依然會發(fā)生。暗電流噪聲與溫度以及點荷包在勢阱中的存儲時間有著密切的關(guān)系,存儲時間越長,溫度越高,暗電流噪聲就會越大。
(2)轉(zhuǎn)移噪聲
在科學(xué)級CCD圖像傳感器的運作過程中,當(dāng)電荷發(fā)生轉(zhuǎn)移時,由于勢阱之間會出現(xiàn)電荷的漲落,進而會產(chǎn)生一定的噪聲。
(3)散粒噪聲
我們知道光是具有粒子特性的,因此每次的入射光中的光子數(shù)是不完全相同的,而這樣的變動特性就要會引發(fā)光的散粒噪聲。電子器件中的散粒噪聲來自于導(dǎo)體中電流的隨機漲落,光散粒噪聲與電子效益有關(guān)。
(4)復(fù)位噪聲
復(fù)位噪聲是一種因開關(guān)介入電容帶來一定的電壓而產(chǎn)生的噪聲,是一種采樣電路必然會發(fā)生的噪聲。
在科學(xué)研究中常常要對低照度的圖像進行長時間觀察和定量分析,用于這一目的的科學(xué)級CCD相機對動態(tài)范圍、靈敏度和噪聲性能有極高的要求。為了達到這些要求,科學(xué)級CCD相機首先要克服以上的噪聲問題,才能提高自身的性能。
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