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實(shí)際使用中，大致有以下原因?qū)е虏荒艿玫秸鎸?shí)的節(jié)點(diǎn)曲線，從而引起故障誤判。測(cè)試可靠性指測(cè)試儀能夠識(shí)別出不真實(shí)的ASA曲線的能力。
1．接觸問(wèn)題
接觸問(wèn)題是影響故障判斷的常見(jiàn)問(wèn)題之一。當(dāng)測(cè)試到開(kāi)路曲線的時(shí)候，其實(shí)很可能是由于接觸問(wèn)題——器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測(cè)試探頭磨損等原因所引起的，所以在實(shí)際使用中，一旦發(fā)現(xiàn)開(kāi)路曲線，都要再次確認(rèn)——檢查、處理，然后重測(cè)，以免得到虛假曲線。但當(dāng)一次測(cè)試要處理成百上千條曲線時(shí)，依靠人工來(lái)找出開(kāi)路曲線很不現(xiàn)實(shí)，因此，匯能測(cè)試儀設(shè)有自動(dòng)判斷開(kāi)路曲線的功能，在所有測(cè)試后得到的曲線中，只要存在開(kāi)路曲線，就給出提示信息，用戶可以根據(jù)提示很容易找到它的所在。
2．曲線穩(wěn)定性問(wèn)題
由于被測(cè)電路本身的原因，導(dǎo)致在同樣的測(cè)試條件下，每次測(cè)到的曲線都不相同稱之為曲線不穩(wěn)定。導(dǎo)致不穩(wěn)定曲線的原因主要有以下三種：
a．自激導(dǎo)致的不穩(wěn)定
電路結(jié)點(diǎn)的電特征千差萬(wàn)別，將一個(gè)正弦波注入電路結(jié)點(diǎn)，某個(gè)結(jié)點(diǎn)正好在這個(gè)頻率下出現(xiàn)自激是完全可能的。自激曲線的現(xiàn)象是大面積散點(diǎn)，并且沒(méi)有最終的穩(wěn)定狀態(tài)。更換測(cè)試信號(hào)頻率即可消除自激現(xiàn)象。
其實(shí)這也是ASA測(cè)試使用多種頻率正弦波作為測(cè)試信號(hào)的原因——正弦波的諧波分量最少，導(dǎo)致自激的可能性最小。
b．過(guò)渡過(guò)程導(dǎo)致的不穩(wěn)定
當(dāng)結(jié)點(diǎn)的充、放電常數(shù)相差較大時(shí)所導(dǎo)致。這種曲線的現(xiàn)象是當(dāng)反復(fù)測(cè)試時(shí)，曲線逐步向一個(gè)穩(wěn)定狀態(tài)靠近，有一個(gè)最終的穩(wěn)定狀態(tài)。
c．測(cè)試MOS器件時(shí)的不穩(wěn)定
前兩種不穩(wěn)定主要發(fā)生在電路板測(cè)試時(shí)，而這種不穩(wěn)定主要發(fā)生在測(cè)試單獨(dú)的MOS器件時(shí)。導(dǎo)致這種不穩(wěn)定的原因是器件中的MOS晶體管隨測(cè)試信號(hào)上升、下降的開(kāi)關(guān)過(guò)程不同。
這種不穩(wěn)定的現(xiàn)象是曲線上下跳，似乎是兩條穩(wěn)定曲線輪流出現(xiàn)一樣。測(cè)試時(shí)只要把器件的電源腳和地腳都接地就可消除。
不穩(wěn)定曲線容易導(dǎo)致誤判。但當(dāng)一次測(cè)試要處理成百上千條曲線時(shí)，依靠人工來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線很不現(xiàn)實(shí)，因此，匯能測(cè)試儀設(shè)有自動(dòng)判斷曲線是否穩(wěn)定的功能，在所有測(cè)到的曲線中，只要存在不穩(wěn)定曲線，就給出提示信息，用戶可以根據(jù)提示很容易找到它的所在，然后按上述方式處理、重測(cè)即可。
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