鍍膜厚度的縱向、橫向均勻度是鍍膜制品重要質(zhì)量和技術(shù)指標(biāo)。鍍膜產(chǎn)品的光密度（ 光密度 = LOG（1/透過率））和鍍層厚度成正比例關(guān)系，鍍層厚度越厚，光密度值越大，透過率越低。所以通過測(cè)量鍍膜產(chǎn)品的光密度可以監(jiān)控鍍膜層的厚度。
真空鍍膜在線鍍層厚度檢測(cè)裝置，適用于各類鍍膜生產(chǎn)線上，通過選擇監(jiān)控產(chǎn)品的可見光透過率，紅外線透過率和光密度值（OD），來達(dá)到在線檢測(cè)和分析產(chǎn)品鍍層厚度，鍍層厚度的均勻性等性能是否在工藝要求之內(nèi)。以便操作人員及時(shí)了解產(chǎn)品質(zhì)量，如有問題，及早發(fā)現(xiàn)及調(diào)整工藝，提高產(chǎn)品品質(zhì)，降低產(chǎn)品的廢品率。
此儀器提供雙路的RS485通訊接口，標(biāo)準(zhǔn)的MODBUS通訊協(xié)議，方便和PLC，單片機(jī)，人機(jī)界面，電腦等通訊。鍍膜機(jī)可以直接讀取此設(shè)備的光密度數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)控制自動(dòng)化（閉環(huán)控制）。
一：真空鍍膜在線測(cè)厚儀的參數(shù)
1.測(cè)試波長：根據(jù)客戶需要選擇，目前有如下的選擇：
l 紅外線：850 nm（默認(rèn)選項(xiàng)，抗干擾能力強(qiáng)）
l 可見光：白光 380nm-760nm
l 綠光： 530nm
2.透過率測(cè)量精度：優(yōu)于±1%
3.透過率分辨率：0.005%；
4.光密度測(cè)量范圍：0.00 OD --- 5.00 OD
5.光密度的分辨率：
0.01 for 0.00 - 3.00 OD
0.05 for 3.00 - 5.00 OD
6.最大測(cè)量點(diǎn)數(shù)：36點(diǎn)
7.相鄰探測(cè)頭之間距離：最小70mm
8.發(fā)送接收探頭之間距離：20mm
9.溫度范圍： -20°C --- +70°C
10.數(shù)據(jù)刷新周期：300ms
11.儀器整體尺寸： 100mm（寬）*230mm（高）* 長度(根據(jù)客戶要求定制)
12.需真空法蘭電極芯數(shù)：6根（不配電腦監(jiān)控），9根（配電腦監(jiān)控）
13.電源：220V AC/50Hz
14.通訊：雙路RS485
二：真空鍍膜在線測(cè)厚儀的特點(diǎn)
1. 一體化設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)簡單，現(xiàn)場(chǎng)安裝維護(hù)方便
2. 防塵設(shè)計(jì)
對(duì)于鍍膜過程中的粉塵（如鍍鋁過程）會(huì)影響測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)，該系統(tǒng)采用防塵設(shè)計(jì)，粉塵不會(huì)影響光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部。如有粉塵，只需要定期擦拭清潔光學(xué)系統(tǒng)的鏡頭玻璃即可，方便維護(hù)。
3. 真空室的電子設(shè)計(jì)
真空環(huán)境中，和大氣環(huán)境下有眾多的區(qū)別，經(jīng)過多次真空試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用，成功解決真空中電子器件的穩(wěn)定性問題。
三：真空鍍膜在線測(cè)厚儀的組成
1：設(shè)備分為三部分：探測(cè)系統(tǒng)、人機(jī)交互設(shè)備、電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)。
主要包括光源，接收器，控制器和支架（測(cè)試點(diǎn)的多少，根據(jù)用戶要求定制，測(cè)試點(diǎn)數(shù)一般是3的整數(shù)倍，如3、6、9、12、15等）。
7寸LCD人機(jī)交互界面，顯示各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的透過率和光密度數(shù)據(jù)。實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)，柱狀圖顯示方式，上下限，基準(zhǔn)值設(shè)置及顯示。
- 電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)（選配）
所有測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)監(jiān)控。包含實(shí)時(shí)顯示、柱狀圖、上下閾值設(shè)定、實(shí)時(shí)曲線，越限報(bào)警等。透光率與光密度的顯示可自由切換。
歷史數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，分析和報(bào)表功能。整卷膜在其對(duì)應(yīng)長度上，都有數(shù)據(jù)記錄和分析。如果已知鍍膜機(jī)的運(yùn)行速度，可以出報(bào)表分析整卷膜在對(duì)應(yīng)長度的光學(xué)指標(biāo)，做到整卷膜鍍層厚度和均勻性可追溯。
2：真空鍍膜在線測(cè)厚儀示意圖。
此設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)和PC，人機(jī)界面，PLC，單片機(jī)，鍍膜機(jī)控系統(tǒng)通訊，實(shí)現(xiàn)監(jiān)視和控制。
