一：鍍膜機(jī)膜厚在線監(jiān)控儀的參數(shù)
1.測(cè)試波長(zhǎng)：根據(jù)客戶需要選擇，目前有如下的選擇：
- 紅外線：850 nm（默認(rèn)選項(xiàng)，抗干擾能力強(qiáng)）
- 可見(jiàn)光：白光 380nm-760nm
- 綠光： 530nm
2.透過(guò)率測(cè)量精度：優(yōu)于±1%
3.透過(guò)率分辨率：0.005%；
4.光密度測(cè)量范圍：0.00 OD�。�5.00 OD
5.光密度的分辨率：
0.01 for 0.00 - 3.00 OD
0.05 for 3.00 - 5.00 OD
6.最大測(cè)量點(diǎn)數(shù)：32點(diǎn)
7.相鄰探測(cè)頭之間距離：最小70mm
8.發(fā)送接收探頭之間距離：20mm
9.溫度范圍： -20°C --- +70°C
10.數(shù)據(jù)刷新周期：300ms
11.儀器整體尺寸： 100mm（寬）*230mm（高）* 長(zhǎng)度(根據(jù)客戶要求定制)
12.需真空法蘭電極芯數(shù)：6根（不配電腦監(jiān)控），9根（配電腦監(jiān)控）
13.電源：220V AC/50Hz
14.通訊：雙路RS485
二：儀器特點(diǎn)
- 一體化設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，現(xiàn)場(chǎng)安裝維護(hù)方便
- 防塵設(shè)計(jì)
對(duì)于鍍膜過(guò)程中的粉塵（如鍍鋁過(guò)程）會(huì)影響測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)，該系統(tǒng)采用防塵設(shè)計(jì)，粉塵不會(huì)影響光學(xué)系統(tǒng)內(nèi)部。如有粉塵，只需要定期擦拭清潔光學(xué)系統(tǒng)的鏡頭玻璃即可，方便維護(hù)。
- 真空室的電子設(shè)計(jì)
真空環(huán)境中，和大氣環(huán)境下有眾多的區(qū)別，經(jīng)過(guò)多次真空試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用，成功解決真空中電子器件的穩(wěn)定性問(wèn)題。
三：光密度在線監(jiān)控設(shè)備的組成
1：設(shè)備分為三部分：探測(cè)系統(tǒng)、人機(jī)交互設(shè)備、電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)。
主要包括光源，接收器和支架（測(cè)試點(diǎn)的多少，根據(jù)用戶要求定制，測(cè)試點(diǎn)數(shù)一般是3的整數(shù)倍，如3、6、9、12、15等）。
7寸LCD人機(jī)交互界面，顯示各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的透過(guò)率和光密度數(shù)據(jù)。
- 電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)（選配）
所有測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)監(jiān)控。包含實(shí)時(shí)顯示、柱狀圖、上下閾值設(shè)定、實(shí)時(shí)曲線，越限報(bào)警等。透光率與光密度的顯示可自由切換。
歷史數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，分析和報(bào)表功能。整卷膜在其對(duì)應(yīng)長(zhǎng)度上，都有數(shù)據(jù)記錄和分析。如果已知鍍膜機(jī)的運(yùn)行速度，可以出報(bào)表分析整卷膜在對(duì)應(yīng)長(zhǎng)度的光學(xué)指標(biāo)，做到整卷膜鍍層厚度和均勻性可追溯。
