產(chǎn)品概述：
探井設(shè)備中的電路板采用的電子元器件在入廠前需要進(jìn)行從室溫到高溫的功能性定性測(cè)試，其目的是為電路板的裝配做元器件的篩選，即對(duì)元器件在老化過(guò)程中進(jìn)行功能性測(cè)試，保證器件的高可靠性。
本設(shè)備是北京中科泛華測(cè)控技術(shù)有限公司北京系統(tǒng)開(kāi)發(fā)部為某知名鉆探工程有限公司設(shè)計(jì)的電子元器件老化測(cè)試設(shè)備，規(guī)格型號(hào)為ATE-U09E-HT。設(shè)備由美國(guó)NI公司的高性能硬件與軟件，配合國(guó)內(nèi)外先進(jìn)的模塊化儀器設(shè)備，結(jié)合我公司自主開(kāi)發(fā)的信號(hào)路由矩陣及標(biāo)準(zhǔn)軟件組成，系統(tǒng)除裝卸件采用手動(dòng)完成外，測(cè)試過(guò)程由系統(tǒng)自動(dòng)完成。
本設(shè)備采用了模塊化、標(biāo)準(zhǔn)化組件和元件，可以在室溫至180攝氏度環(huán)境溫度下對(duì)電子元器件進(jìn)行功能、電氣指標(biāo)的自動(dòng)化測(cè)試，并對(duì)測(cè)件性能進(jìn)行評(píng)判，可測(cè)試8類元器件。
產(chǎn)品功能：
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序號(hào) |
對(duì)象 |
測(cè)試項(xiàng)目 |
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1 |
電阻 |
內(nèi)容 |
在溫度變化過(guò)程中測(cè)試，阻值變化 |
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2 |
電容 |
內(nèi)容 |
在溫度變化過(guò)程中測(cè)試電容值
耐壓（不同的類型的測(cè)試電壓和時(shí)間）（DC 100V）
損耗角正切 |
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3 |
電感 |
內(nèi)容 |
電感值
飽和電流 |
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4 |
穩(wěn)壓器 |
內(nèi)容 |
額定負(fù)載下輸出電壓波動(dòng)，紋波抑制比 |
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5 |
二極管 |
內(nèi)容 |
正向壓降
反向擊穿電壓 |
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6 |
變壓器 |
工頻變壓器 |
內(nèi)容 |
輸入電感，輸出電感(mH)，轉(zhuǎn)變比 |
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高頻變壓器 |
內(nèi)容 |
1. 輸入電感，輸出電感(mH)
2. 輸入設(shè)定頻率和峰峰值電壓信號(hào)，測(cè)試輸出信號(hào)的頻率和峰峰值
3．分析波形的失真度 |
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網(wǎng)絡(luò)變壓器 |
內(nèi)容 |
1.同軸以太網(wǎng)使用，測(cè)試輸出（頻率10MHz）
2.輸入電感，輸出電感(mH) |
性能詳解：
專注于元器件的在線環(huán)境仿真與性能檢測(cè)；
室溫至180攝氏度的任意溫度點(diǎn)在線環(huán)境測(cè)試，精度可達(dá)0.1攝氏度；
可以任意設(shè)置老化溫度點(diǎn)、老化時(shí)間與循環(huán)測(cè)試時(shí)間間隔。
集成自行研發(fā)大規(guī)模信號(hào)路由矩陣，資源路數(shù)可達(dá)192（×8）×16，同時(shí)兼容10MHz帶寬高頻信號(hào)及3A功率信號(hào)傳輸，通道間絕緣大于1000M歐姆，線路阻抗小于600m歐姆，串?dāng)_1MHz小于-60dB。
支持電阻、電容、電感、穩(wěn)壓器、二極管以及變壓器等多種元器件精確測(cè)試，測(cè)試內(nèi)容涵蓋電阻、電容、電感、紋波抑制比、耐壓等；
老化板適配夾具耐溫可達(dá)270攝氏度，接口可基于元器件任意定制，可極大擴(kuò)展設(shè)備的適用范圍；
自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程控制，操作簡(jiǎn)單，具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、曲線分析與報(bào)表生成功能。
技術(shù)指標(biāo)：
| 序號(hào) |
對(duì)象 |
范圍 |
精度 |
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1 |
電阻 |
1Ω～10MΩ |
10Ω以下，精度1%；
10Ω以上，精度0.5%； |
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2 |
電容 |
1pF～1F |
5% |
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3 |
電感 |
10nH～100H |
5% |
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4 |
電壓 |
300VAC |
0.5% |
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5 |
電流 |
±1 A |
0.5% |
