英國(guó)ABI-6400與ABI-6500參數(shù)主要區(qū)別:
| |
6400 |
6500 |
| 測(cè)試范圍 |
5V數(shù)字IC |
多種電源數(shù)字IC |
| 后置驅(qū)動(dòng)能力 |
400mA (MAX) |
600mA (MAX) |
| 隔離信號(hào)通道 |
4組信號(hào) |
8組信號(hào)(支持較大驅(qū)動(dòng)電流) |
| 測(cè)量電壓范圍 |
+10V~ -10V |
+20V~ -20V |
主要功能:
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試
64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件)
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試
短路追蹤測(cè)試(低電阻測(cè)試)
實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
存儲(chǔ)器功能測(cè)試
數(shù)字時(shí)序編輯功能
未知器件型號(hào)查詢
程控電源供電
測(cè)試準(zhǔn)確-源自先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)
同一器件同一時(shí)間完成多種測(cè)試:功能測(cè)試,V-I曲線測(cè)試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試,連接狀態(tài)測(cè)試,管腳電壓測(cè)試等.
圖形化元件測(cè)試庫(kù)的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯測(cè)試完成,方便快捷的建立起測(cè)試庫(kù)中沒(méi)有的元件庫(kù).
整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單,通過(guò)圖形化的測(cè)試庫(kù)編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速建立板測(cè)試庫(kù),快速批量檢測(cè)電路板的功能.
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測(cè)量功能:三段低電阻測(cè)量范圍,可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測(cè)試信息.
V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)元器件直接進(jìn)行測(cè)試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào),正負(fù)電壓可以不一致,例如:-2.5v~+10v 最大限度地保證測(cè)試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種.
產(chǎn)品特征:
中英文測(cè)試軟件,USB接口.
數(shù)字測(cè)試通道:64路(可擴(kuò)充到256通道).
模擬測(cè)試通道64路(可擴(kuò)充到256通道).
1路v-i探棒測(cè)試隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng),確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào),6500可提供8路隔離信號(hào).
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試;測(cè)試庫(kù)達(dá)上萬(wàn)種元器件,可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫(kù),可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)配有離線測(cè)試盒,快速測(cè)試批量元器件.離線測(cè)試和在線測(cè)試功能完全一致.
IC型號(hào)識(shí)別:標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試.
讀寫(xiě)存儲(chǔ)器功能測(cè)試5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測(cè)試。
數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開(kāi)路，自動(dòng)上加上拉電阻。
V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。
了解詳細(xì)資料請(qǐng)點(diǎn)擊:http://www.tes.cn
