ABI-8200包含2個重要測試模塊：ABI-6400+ABI-2400
模塊一：ABI-6400的技術(shù)參數(shù)
6400單獨成為測量設(shè)備的外形
離線測試盒
主要測試功能：
1)64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試
2)64通道V-I曲線模擬通道測試(可測模擬器件)
3)強大的元器件和整板仿真測試功能
4)閾值電平零界點掃描測試
5)短路追蹤測試(低電阻測試)
6)實時顯示輸出邏輯電平值
7)存儲器功能測試
8)數(shù)字時序編輯功能
9)未知器件型號查詢
10)程控電源供電,可設(shè)定輸出的延遲時間
產(chǎn)品特征描述
1)中英文測試軟件，產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶
2)數(shù)字測試通道:64路(可擴充到256通道).
3)模擬測試通道64路，即64路V-I曲線測試(可擴充到256通道). 1路v-i探棒測試
4)隔離通道:4路.總線競爭信號隔離功能:用于解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等)，可提供4路總線競爭隔離信號。
5)能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進行在線/離線功能測試；可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫，可以快速擴充測試庫
6)配有離線測試盒，快速測試批量元器件。離線測試和在線測試功能完全一至。
7)IC型號識別：標識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進行型號識別測試。
8)讀寫存儲器功能測試:可針對記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進行讀取,對比及將資料存入電腦中,可進行在線或離線測試.可采取在線(離線)學習/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進行比較測試；測試結(jié)果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯誤的代碼
9)5V/5A的直流電源程控自動輸出,具有過電壓及過電流保護功能.由系統(tǒng)自動控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時間.方便各種類型電路板的測試。
10)數(shù)字集成電路測試中集電極開路，自動上加上拉電阻。
11)V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線測試
12)LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試：可采取學習、比較的方式對一些常見的LSI器件進行功能及狀態(tài)分析測試。
測試準確-源自先進的測試技術(shù)
1.同一器件同一時間完成多種測試：功能測試，V-I曲線測試，曲線拐點溫度變化系數(shù)，各個管腳電壓值測量,管腳連接狀態(tài)測量顯示,
2.圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成，方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫
3.整板測試非常簡單，通過圖形化的測試庫編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵信號及測試輸出的標準響應信號，快速建立板測試庫，快速批量檢測電路板的功能。
4.邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯誤結(jié)果.
5.邏輯電平閾值自定義�？梢栽O(shè)定非標準的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件。
6.短路電阻測量功能：三段低電阻測量范圍，可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小，并自動探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值，及檢查短路點。
7.輸出邏輯時序圖形顯示、具體時序電壓值顯示,方便掌握具體有用測試信息。
8.V-I曲線測試功能:可針對元件直接進行測試，曲線電壓掃描范圍：-10v~+10v；測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整, 可調(diào)整為非對稱電壓掃描信號，正負電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v 最大限度地保證測試的安全性。其輸出電流由系統(tǒng)自動調(diào)整設(shè)定.掃描信號可達幾十種。
9.V-I曲線溫漂拐點系數(shù)測定，可以觀測曲線拐點溫度變化系數(shù)，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障。方便找出不穩(wěn)定器件.
10.系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進行通道擴充，直至256通道
英國ABI-6400電路板故障檢測儀技術(shù)參數(shù)：
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參數(shù)規(guī)格 |
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測試通道數(shù): |
64通道 |
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總線隔離信號信道數(shù): |
4通道 |
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輸出驅(qū)動電壓: |
TTL/CMOS 標準 |
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輸出驅(qū)動電流: |
電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
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一般H-L 80mA @ 0.6V |
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一般 L-H 200mA @ 2V |
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Max.?400mA |
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驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換比: |
>100V/μs |
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電壓范圍: |
+/-10V |
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輸入阻抗: |
10k |
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邏輯形態(tài): |
三態(tài)或開集極開路 (內(nèi)定或由程序設(shè)定) |
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驅(qū)動邏輯形態(tài): |
Low, high, 三態(tài) (tri-state) |
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過電壓保護范圍: |
<0.5V, >5.5V |
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最長測試時間: |
根據(jù)被測元器件而定 |
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測試方式: |
在線及離線測試 (需外接離線測試盒) |
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電源供給規(guī)格參數(shù) |
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自動供給電源輸出: |
1 x 5V @ 5A 固定式 |
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過電壓保護: |
7V |
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過電流保護: |
7A |
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測試模式 |
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單次(Single): |
單次測試 |
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循環(huán)(Loop): |
反復測試, 或條件式循環(huán)測試(PASS或FAIL) |
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自動掃描測試: |
可找到較為嚴格的邏輯電平閾值 |
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邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) |
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最小調(diào)整解析: |
100mV |
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低電平Low levels: |
TTL 0.1V to 1.1V |
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CMOS 0.1V to 1.5V |
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三態(tài)Switching levels: |
TTL 1.0V to 2.3V |
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CMOS 1.0V to 3.0V |
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高電平High levels: |
TTL 1.9V to 4.9V |
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CMOS 1.9V to 4.9V |
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掃描低邏輯范圍Swept low levels: |
TTL 0.1V to 1.1V |
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CMOS 0.1V to 1.5V |
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掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍Swept switching levels: |
TTL 1.2V |
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CMOS 2.5V |
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掃描高邏輯范圍Swept high levels: |
TTL 1.9V to 4.9V |
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CMOS 1.9V to 4.9V |
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測試功能及參數(shù) |
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集成電路功能測試 |
根據(jù)測試庫的功能進行測試，根據(jù)元件的原理和真值表進行測試 |
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元器件連接特性測試 |
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短路狀態(tài)偵測 Short circuit detection |
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懸�。ǜ〗樱顟B(tài)偵測 Floating input detection |
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開路狀態(tài)偵測 Open circuit detection |
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連接狀態(tài)偵測 Linked pin detection |
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電壓量測Voltage: |
最小解析 10mV 范圍 +/-10V |
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具邏輯狀態(tài)偵測 Logic state detection |
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VI曲線測試: |
測試通道數(shù)64 |
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電壓設(shè)定范圍 -10V to +10V (可自行設(shè)定)，可以設(shè)置非對稱電壓掃描 |
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最大測試電流 1mA |
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曲線拐點系數(shù): |
管腳的v-i曲線圖中的拐點圖形，隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù)，對于判定溫漂的故障元件非常有幫助 |
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配件 |
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標準配件 |
1 x離線測試測試盒 |
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1 x 64 way test cable (64通道測試線) |
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1 x 64 way split test cable (2X32通道測試線) |
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1 x V-I probe assembly (V-I曲線測試探棒) |
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1 x BDO cable (隔離通道信號測試線) |
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1 x Short locator cable (短路電阻測試探棒) |
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1 x Ground clip (接地信號夾) |
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1 x PSU lead set (電源輸出線) |
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通訊及機箱 |
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內(nèi)置通訊接口 |
PCI interface (通訊接口) |
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外置通訊接口及機箱 |
MultiLink case |
模塊二：ABI-2400的技術(shù)參數(shù)
2400單獨成為測量設(shè)備的外形
ABI2400電路板故障檢測儀特點：
1)適合數(shù)字及模擬集成電路的測試
2)可進行在線或離線測試與分析
3)具有24路測試通道+2路探棒測試
4)安全性高的無電源測量方式
5)矩陣式V-I曲線測試模式, 可針對管腳間的阻抗曲線進行測試
6)在進行離線測試時, 可針對芯片內(nèi)部進行阻抗分析
7)自動對比及儲存曲線,
8)可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件測試
9)可設(shè)定同步脈沖信號的寬度, 進行可控硅元器件或FET的功能測試
10)可進行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測試
11)具有二組信號源, 可輸出直流信號, 針對光電耦合器及繼電器進行穩(wěn)態(tài)測試.
12)曲線相似度百分比顯示，具有業(yè)界中最多的測試條件設(shè)計, 大大提高了故障診斷能力.
13)測試頻率高達到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件
14)本系統(tǒng)具備自動信號補償功能, 可針對測試環(huán)境及夾具進行自校測試, 以防止測量信號失真.
15)可由軟件來進行維修日志的編寫
16)可由軟件加入圖片, 用來清楚的表示量測位置及電路板圖像.
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ABI2400測試技術(shù)參數(shù)
| V-I 測試參數(shù) |
| 測量通道 |
24路測試通道 |
| 探筆通道 |
2通道實時對比測試 |
| 信號通道 |
2通道同步脈沖信號 |
| 測試電壓范圍 |
2 V to 50 V peak to peak：
2、4、6、8、10、20、30、40、50V |
| 電壓分辨率: |
8 to 12 bits |
| 測試頻率范圍: |
37.5 Hz to 12 kHz：
37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600/750/960/1.2k
/1.5k/2.4k/3k/4.8k/6k/12kHz |
| 信號電流范圍: |
1 μA to 150 mA |
| 測試阻抗范圍: |
100Ω to 1MΩ
100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 測試信號波形: |
正玄波、三角波、斜波 |
| 顯示圖形模式: |
V-I, V-T, I-T |
| 矩陣測試 |
各個管腳間的VI曲線測試 |
| 測量波形自動對比功能: |
可利用實時量測雙通道來自動實時對比好壞組件的波形, 或是將波形進行存儲之后, 再進行比對工作. |
| 同步脈沖輸出模式: |
正向(Positive), 負向(negative)或雙向(bipolar)波形，直流模式 |
| 同步信號振幅: |
可調(diào)式由 +10 V ~- 10V |
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