在測試測量行業(yè)高速發(fā)展的今天,工程師們對數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的精度、采樣率和傳輸速率要求越來越高,如何快速構建高效完整的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)成為整個測試測量工程項目的核心與關鍵。2008年泛華測控DAQ事業(yè)部“快速構建高效完整的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)”全國巡回研討會將為您解析數(shù)采系統(tǒng)的搭建過程,并通過用戶案例與您共同探討數(shù)據(jù)采集的解決方案,以滿足廣大測試測量工程師對數(shù)采系統(tǒng)的專業(yè)需求,敬請關注!
泛華測控DAQ事業(yè)部是National Instruments(美國國家儀器有限公司)與北京中科泛華測控技術有限公司聯(lián)合成立的部門,DAQ事業(yè)部以NI高品質數(shù)據(jù)采集產品為平臺,秉承以人為本的服務理念,為國內數(shù)據(jù)采集用戶提供專業(yè)而完善的售前售后服務。
本屆全國巡回研討會將分別于2008年10月14日、16日和21日在北京、天津、青島三地舉辦,屆時,DAQ事業(yè)部將向您展示最新的NI數(shù)據(jù)采集產品,并且免費為您發(fā)放尖端產品資料和數(shù)據(jù)采集白皮書,并為廣大測試測量工程師提供現(xiàn)場技術咨詢。此次研討會將引領您進入數(shù)據(jù)采集技術的殿堂,您不僅會了解到數(shù)據(jù)采集和信號調理基礎知識,NI數(shù)據(jù)采集產品的性能和優(yōu)勢所在,還將掌握快速構建高效完整的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的先進技術以及數(shù)采產品的選型方法。涉及的產品包括:M系列多功能數(shù)據(jù)采集卡、S系列同步數(shù)據(jù)采集卡、USB便攜式數(shù)據(jù)采集設備、LabVIEW的圖形化開發(fā)平臺等多種產品。
作為全球領先數(shù)采設備的專業(yè)供應商,泛華測控DAQ事業(yè)部將致力于為客戶提供最貼心和專業(yè)的服務,與客戶攜手共同成長是DAQ事業(yè)部最大的心愿!
各站詳情及報名方式:
時間 |
城市 |
地點 |
報名方式 |
10月14日
下午14:00-17:00 |
北京市 |
北京麗亭華苑酒店3樓金輝廳
(北京市海淀區(qū)知春路25號) |
|
10月16日
下午14:00-17:00 |
天津市 |
天津水晶宮飯店2樓天子閣
(河西區(qū)友誼路28號) |
10月21日
下午14:00-17:00 |
青島市 |
青島貴都(國敦)大酒店3樓貴賓廳 (青島市香港中路28號) |